[计]?测试生成
组合数字集成电路测试生成技术研究 关键词:组合数字集成电路;可测性;失效;测试生成;算法 [gap=767]Key words: Combined digital IC;Testability;Fault;Test generation;Algorithm
自动测试生成 ; 自动测试产生 ; 测试码自动生成
计 路径敏化测试产生法
随机测试产生
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