网站首页 词典首页
Time - dependent dielectric breakdown ( TDDB ) is a major method to evaluate the quality of thin gate oxides.
经时绝缘击穿 ( TDDB ) 是评价薄栅氧化层质量的重要方法.
互联网
时间相关的电介质击穿???
英汉双解词典包含4367426条英汉词条，基本涵盖了全部常用单词的翻译及用法，是英语学习的有利工具。