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?自动测试向量生成
...固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。 传统上，测试数字集成电路可以采用功能性向量，或是由自动测试向量生成(ATPG)工具所产生的向量。此类软件工具主要为随机逻辑生成基于扫描的测试向量，对于待测组件(DUT)的存储器部分，却无法提供测试方案。
?自动测试码生成程序
... ATN 扩充转移网络 ATPG 自动测试码生成程序 ATS 自动翻译系统 ...
并行测试生成
atpg系统
测试向量自动生成工具
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