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单词 wafer probe
释义
wafer probe
  • 简明释义
  • 晶圆探针:一种用于测试半导体晶圆上集成电路性能的工具,通常在晶圆制造过程中的测试阶段使用。
  • 网络释义
  • 1

    ?晶圆针测制程

    2)晶圆针测制程(Wafer Probe)经过Wafer Fab之制程后,晶圆上即形成一格格的小格 ,我们称之为晶方或是晶粒(Die),在一般情形下,同一片晶圆上皆制作相同的晶...

  • 2

    ?晶圆针测工序

    ...造过程可划分为前道(Front-end)和后道(Back-end),前道包括晶圆处理工序(Wafer Fabrication)和晶圆针测工序(Wafer Probe),后道包括封装工序(Packaging)和测试工序(Initial Test and Final Test)。

  • 3

    ?晶圆针测

    晶圆加工完后的晶圆,一般会经过晶圆针测wafer probe〉的过程,将失败的晶粒加以标记〈ink do..

短语
  • 双语例句
  • 1
    MMIC on-wafer probe is the key part of MMIC on-wafer measurement system.
    MMIC在片测试探头是MMIC在片测试系统的关键部件。
  • 2
    Measures have been discussed for preventing the Al film for being pierced through by the probe in wafer probing on the 1034 Wafer prober.
    本文打算在1034探针台上针对如何避免探针扎穿铝层问题作一讨论。
  • 3
    Anisotropic conductive connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspection device and wafer inspection method.
    各向异性导电连接器,导电浆料成分,探针元件,和晶片检测仪器及晶片检测方法。
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更新时间:2025/1/27 3:14:26