?测试晶圆
在十一月,产业界亦将迈向下一步,针对18英寸测试晶圆(test wafer)的厚度进行投票,而925微米似乎仍是主要目标;Goldstein表示他们并不希望有太大的改变。
?测试级硅片
我司致力于为客户提供全面的硅片(Silicon Wafer)解决方案,从调试级硅片(Dummy Wafer),测试级硅片(Test Wafer),定制超厚、超平硅片等,尺寸覆盖4寸、5寸、6寸、8寸、12寸,并可提供半导体硅片单面/双面抛光、减薄、切割、MEMS等加工和定制服...
?测试片
公布 中文名称:测试片 英文名称:test wafer 定义:用于加工工艺检测、区域和加工洁净度检测的硅片。等级比机械测试片高,比正片低。 应用学科: 材料科学技术(一级学科); 半导体材料(二级学科);元素
?测试级抛光硅片
... 调试用硅片Dummy Wafer 测试级抛光硅片Test Wafer 产品级抛光硅片Prime Wafer ...
晶圆测试 ; 圆片测试 ; 晶片试验 ; 探针测试
薄片内芯片检测
晶圆级检测
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