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单词 scanning auger microscopy
释义
scanning auger microscopy
  • 简明释义
  • 扫描俄歇电子显微镜
  • 网络释义
  • 1

    ?扫描俄歇电子显微镜

    ...roscopy)(AES) (3) 二次离子质谱(secondary-ion mass spectrometry )(SIMS) (4) 扫描俄歇电子显微镜(scanning Auger microscopy)(SAM) （1） X射线衍射法(X-Ray Diffraction，XRD) 利用X射线在晶体中的衍射现象必须满足布拉格(Bragg)公式： nλ=2dsinθ 具体的...

  • 2

    ?扫描式欧杰电子显微术

    SEM装置示意图【17】 2.4 扫描式欧杰电子显微术(Scanning Auger Microscopy,SAM) 扫描是欧杰电子显微术是结合扫描电子显微镜及欧杰电子能谱仪(ASE)而成的。

短语
  • 双语例句
  • 1
    Auger electron spectroscopy (AES), scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM) are used to analyze component and surface morphology of the films.
    用俄歇电子能谱(AES)、扫描电镜(sem)和原子力显微镜(afm)对薄膜的组成成分和表面形貌进行了分析。
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更新时间：2025/8/15 11:54:22