?扫描式
它还能加入任何扫描式 (scan-based) 设计流程,并且提供极佳的未知状态容忍能力 (x-state tolerance),工程师不必另外增加逻辑电路或受限于测试结构带来的严苛设
?基于扫描
谈到可测性的电路设计,内建自测试(BIST)和基于扫描(Scan-Based)的电路设计是常被提及的。
一次性扫描编码
扫描自测试
扫描测试
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