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单词 secondary ion mass spectrometry, SIMS
释义
secondary ion mass spectrometry, SIMS
  • 翻译

次级离子质谱法

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  • 网络释义
  • 双语例句
  • 1
    Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
    飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种非常灵敏的表面检测技术。
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更新时间:2025/2/11 20:57:08