二次离子质谱仪(Secondary ion mass spectrometer,SIMS)作为高分辨、高精度的表面分析仪器,可以在锆石样品上数微米的范围内获取精确的同位素及化学组成信息 下载全文 更多同类文献...
2
?二次离子质谱计
... secondary ion background,二次离子本底 secondary ion mass spectrometer (SIMS),二次离子质谱计 secondary ion mass spectrometry (SIMS),二次离子质谱法 ...
3
?次级离子质谱仪
... 二级滤器；精滤器 secondary filter 次级离子质谱仪secondary ion mass spectrometer 二次沈降槽 secondary settler ...
4
?SIMS仪
...1二次离子质谱术；SIMS secondary ion mass spectroscopy： 2二次离子质谱仪;SIMS仪secondary ion mass spectrometer; SIMS apparatus： 3离子散射表面分析ion scattering spectroscopy： ..