?探针损伤
定义 中文名称: 探针损伤 英文名称: probe damage 定义: 由探针操作引起的距离等于探针间距的坑状局部损伤。 应用学科: 材料科学技术(一级学科); 半导体材料(二级学科);元素半导体材料(二级学科)
探针损坏试验程序
检测探针损伤
伤损探测
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