?突起

2-6-3 铝合金薄膜 突起 （ Hillocks ）与孔洞形成机制 33 第三章 实验仪器与方法 39

?异常析出

... 电力析出 Electric precipitation 析出石墨 indigenousgraphite 异常析出 hillocks ...

?小丘

所谓金属电迁移失效， 通常是指金聪层圆金埔离子的迁移在局部区域由质最堆积（Pi］eup）而出现小丘 （Hillocks）或品须，或由质量亏损出现空洞（v01ds）而造成的器件或互连性能退化或 失效．在实际电路中电迁移是要极力避免的。