薄膜厚度测量装置
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?膜厚测定仪
定义 中文名称: 膜厚测定仪 英文名称: film thickness measuring device 定义: 测量光学膜层厚度的仪器。 应用学科: 机械工程(一级学科); 光学仪器(二级学科); 光学测试仪器(二级学科) 以上内容由 全国科学技术名词审
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