?内置自测试

例如，自校验和内置自测试（BIST）是许多智能传感器来常见的要求。还有，在运行时自检功能也可以完成。

?内置自检

特定帧信息结构(FIS)提供的内置自检(BIST)指令。 在收

?内置自测

SoCBIST对一次通过测试综合方案DFT Compiler进行了扩展，使设计人员在其设计中可直接实施可预测逻辑内置自测(BIST)，而不会影响设计的功能、时序或电源需求。